自动（一键）测量系统对试样尺寸测量带了革命性升级

自动（一键）测量系统对试样尺寸测量带了革命性升级

传统的尺寸测量方法基本采用游标卡尺、螺旋测微仪、工具显微镜等等测量工具对试样长度、厚度、宽度、圆等进行测量，对于比较容易测量的尺寸如：长度、宽度、厚度等用卡尺进行测量还是比较方便快捷的。可是对比较难测的尺寸，只能粗略测量了如：半径、弧半径或比较小的尺寸，也很难使用卡尺等测量工具进行精准测量。

经过多少年的发展和改进，精确测量工具也有了很大的改进，市场上出现了影像测量仪等测量工具，可以将被测物品通过光学系统放大显示在电脑显示器上，通过手动选点、画线等进行精确测量，提高了测量精确度，可是同时也出现了一些不可避免的缺点，如重复性不高，测量精度受到人为因素影像很大，每个操作测量员测量的数据都会出现一定的误差。不能达到统一性。

自动（一键）测量系统的出现，*解决了测量精度受人为因素影像的弊端。再一次大大提高了测量精度和测量重复性。

自动测量系统操作非常简单，系统自动捕捉被测试样的边缘，准确识别、自动建立测量架构。同时快速测量多种尺寸数据，

操作便捷，你只要将被测物品放置载物台上，系统自动识别】自动测量尺寸，操作人员所做的就是更换被测样品。所以不会影像测量数据。真正进入测量智能化。